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3D-IC 信号完整性验证需覆盖完整通道

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AI 综述

针对 CoWoS、SoIC、EMIB、Foveros 等 2.5D/3D 封装,Semiconductor Engineering 的文章提出,D2D 接口、微凸块、TSV 与硅中介层会带来阻抗不连续、串扰和 ISI 问题,信号完整性验证应以覆盖芯片、中介层、封装基板与 HBM 堆栈的完整通道做系统级验证,而非分别验证各模块。

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11月5日
  1. Semiconductor Engineering
    3D-IC 信号完整性如何用系统级方法验证

    针对 CoWoS、SoIC、EMIB、Foveros 等 2.5D/3D 封装中 D2D 接口、微凸块、TSV 与硅中介层带来的阻抗不连续、串扰和 ISI 问题,文章提出需以覆盖芯片、中介层、封装基板与 HBM 堆栈的完整通道做系统级信号完整性验证,而非分别验证各模块。

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